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iNano高精度臺式納米壓痕儀是一種緊湊，用戶友好的納米機械測量系統(tǒng)，設(shè)計用于硬涂層，薄膜和少量材料。該系統(tǒng)旨在進行準確，可重復的納米級機械測試，包括壓痕，硬度，劃痕和通用納米級測試。iNano具有很大的力和位移動態(tài)范圍，可以施加高達50mN的力來測試薄膜和軟材料。模塊化選項可滿足多種應(yīng)用，包括材料特性圖和高溫測試。

Nano Indenter® G200原位納米力學測試系統(tǒng)是一種準確，靈活，使用方便的納米級機械測試儀器。 G200 測量楊氏模量和硬度，包括從納米到毫米的六個數(shù)量級的形變測量。 可測量聚合物，凝膠和生物組織的復數(shù)模量以及薄金屬膜的蠕變響應(yīng)（應(yīng)變率靈敏度）。 模塊化適用各種應(yīng)用：頻率特定測試，定量刮擦和磨損測試，集成的基于探頭的成像，高溫納米壓痕測試，擴展負載容量高達10N 和自定義測試。

微納米壓痕儀（高溫）通過在真空環(huán)境中單加熱jian端和樣品來測量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM®HT與掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）或立真空室兼容。附帶的InView軟件可以協(xié)助開發(fā)新的實驗。科學出版物表明，InSEM HT結(jié)果與傳統(tǒng)大型高溫試驗數(shù)據(jù)吻合。廣泛的溫度范圍使InSEM HT成為開發(fā)研究材料的一個非常有價值的工具。

TNI LF-2000原位自動納米操作系統(tǒng)是目前市面上基于SEM電鏡下使用的高自動化程度的納米操作系統(tǒng)，也是一種能夠在SEM電鏡下提供可重復定位、低漂移、閉環(huán)運動控制定位的納米操作系統(tǒng)。LF-2000可以在原位條件下進行力學測量、電學測試、納米物體拾取和裝配、制作微納米器件、納米電子器件電學測量等。

FT-NMT04納米力學性能測試系統(tǒng)是一種多功能的原位掃描電鏡/光纖納米壓頭，能夠準確量化材料在微觀和納米尺度上的力學行為。